电子工业出版社

现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应

丛书名：国防电子信息技术丛书
著者：（日）Eishi H. Ibe（伊部英治）
作译者：毕津顺等
出版时间：2022-07
字数：358
页数：224
版次：01-02
开本：16开开
印次：01-02
ISBN：9787121351150
所属分类：科技,电子技术,微电子、集成电路、显示技术,
定价：99.0

内容简介:
本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。